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TSCQ1012 40~100G误码仪老化系统

TSCQ1012 40~100G误码仪老化系统

详细信息

设备描述

TSCQ1012 设备是40GE/44.3G/56G/100G误码仪老化系统,同时支持8路光模块测试开发功能:40G/100G QSFP+/QSFP28的光模块,主要用于40GE/CPRI/64GFC/100GE/128GFC光模块/AOC开发测试。

采用开放性机箱,主要特性如下:

  •      双路7~9V电源,相互备份,面板上的指示灯查看当前电源供电情况;
  •      灵活的主从模块式架构设计:一套主板+多套子板模式;
  •      最多可支持4套子板模块,即最多支持8路QSFP+/QSFP28的光模块;
  •      每路光接口均支持40GE/CPRI/64GFC/100GE/128GFC业务速率。


RF 接口性能参数指标

参数名称

最小值

典型值

最大值

单位

备注

数据速率

9

 

30

Gb/s

 

供电电源

5

8.5

9

V(DC)

 

整机功耗(无光模块)

 

15

20

W

系统最大支持 150W

整机功耗(满配置光模块)

30

 

65

 

W

备注1

工作温度

-10

 

85

ºC

 

贮存温度

-10

 

70

ºC

 

湿度

5

 

90

%

Non-Condensing

模块接口

QSFP+ / QSFP28封装格式

 

备注: 满配置光模块的最小功耗值:系统配置8路40G SR4模块测试功耗;

          满配置光模块的最大功耗值:系统配置8100G LR4模块测试功耗。


 操作界面

误码仪由PC机控制,模块界面如下:

上一个:Tera3001-Q 多通道自动耦合平台
下一个:Tera2000 10~100G 模块自动化测试平台
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